產品簡介
PSPM系列室溫永磁體探針臺是一款專門針對室溫垂直磁場電測環(huán)境開發(fā)的探針臺,提供0.5T垂直磁場,能夠對2寸、4寸、6寸、8寸晶圓片進行重復性的、標準的電學實驗,外接不同的測試設備可以完成對器件的電學特性測量、參數(shù)測量、DC測量、RF測量和霍爾測量。

PSPM系列室溫永磁體探針臺是一款專門針對室溫垂直磁場電測環(huán)境開發(fā)的探針臺,提供0.5T垂直磁場,能夠對2寸、4寸、6寸、8寸晶圓片進行重復性的、標準的電學實驗,外接不同的測試設備可以完成對器件的電學特性測量、參數(shù)測量、DC測量、RF測量和霍爾測量。
Avantgarde 室溫永磁鐵探針臺為半導體芯片的電參數(shù)測試提供一個測試平臺,外接不同的測量儀器,配合測量儀器可完成集成電路的電壓、電流、電阻以及電容電壓特性曲線等參數(shù)檢測。另外,可用于測量半導體材料的載流子濃度、遷移率、電阻率、霍爾系數(shù)等重要的霍爾參數(shù)。在室溫下對芯片、晶圓和器件進行非破壞測試。
PSPM系列室溫永磁體探針臺是一款專門針對室溫垂直磁場電測環(huán)境開發(fā)的探針臺,提供0.5T垂直磁場,能夠對2寸、4寸、6寸、8寸晶圓片進行重復性的、標準的電學實驗,外接不同的測試設備可以完成對器件的電學特性測量、參數(shù)測量、DC測量、RF測量和霍爾測量。
特點
? 樣品座可以放置最大8英寸的晶圓樣品,通過移動樣品座下面的滑臺,可以實現(xiàn)最大X-Y軸±100mm的移動行程,并且樣品座本身可以進行三維上的精細調節(jié),使得樣品測試 和換樣更加便捷。
? 探針臂底座采用磁鐵吸附固定,可使探針在X-Y-Z三個維度上進行調節(jié),配合樣品座位移調節(jié),可滿足探針快速扎到最大8英寸樣品的任意位置
? 探針臂采用三同軸線纜和三同軸接頭,漏電性小,漏電流在100fA以內,探針臂內置線纜,避免雜亂的走線
? 探針采用針套固定,只有針尖裸露在外,減小漏電
? 永磁鐵采用電動控制,可以實現(xiàn)前進后退翻轉運動
? 永磁鐵支架與探針臺采用分體隔離支架,在磁體運動時避免振動傳導到樣品上
? 樣品固定方式采用多孔分區(qū)吸附,有外圈、內圈和中間三個單獨控制的氣體吸附通道,最小可吸附固定1mm*1mm樣品
型號分類:
| 型號 | PSPM-2 | PSPM-4 | PSPM-6 | PSPM-8 |
| 樣品座尺寸 | 2英寸 | 4英寸 | 6英寸 | 8英寸 |
參數(shù)和指標:
| 樣品座 | |
| 卡盤尺寸: | 2/4/6/8英寸,可定制 |
| 材質: | 無氧銅鍍金 |
| 樣品固定方式: | 多孔分區(qū)吸附有外圈、內圈和中間三個單獨控制的氣體吸附通道 |
| 滑臺 | |
| X-Y移動行程: | 2/4寸: X-Y軸±50mm;6/8寸: X-Y軸 ±100mm |
| 讀數(shù)精度: | 10μm |
| 探針臂 | |
| X-Y-Z移動行程: | X-13mm,Y-13mm,Z-13mm |
| 旋轉度: | 360度自由旋轉 |
| 移動精度: | 10μm |
| 探針臂數(shù)量: | 可安裝6個探針臂(左右兩邊各3個) |
| 電學線纜: | 三同軸線纜 |
| 漏電流: | 100fA |
| 探針類型: | 直流探針 |
| 光學系統(tǒng) | |
| 顯微鏡放大倍數(shù): | 10-180倍 |
| 顯微鏡工作距離: | 90-100mm |
| CCD相機分辨率: | 3800萬像素 |
| 永磁鐵組件 | |
| 磁場大?。?br /> | 0.5T |
| 磁鐵間距: | 30mm |
| 磁鐵極面尺寸: | 50mm |
| 可加選件 | |
| 光學平臺/直流探針/微波探針/樣品座/屏蔽箱/光纖 | |
集成電路
芯片
晶圓片