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MicroSense公司（以前的DMS和ADE公司）具有近35年的生產(chǎn)振動樣品磁強計和其他磁測量設(shè)備的行業(yè)經(jīng)驗，其生產(chǎn)的振動樣品磁強計（VSM）已經(jīng)成為眾多大學(xué)和科研機構(gòu)實驗室、包括公司和企業(yè)必不可少的設(shè)備之一。幾乎所有類型的磁性材料都可以使用Easy（EZ）系列振動樣品磁強計VSM產(chǎn)品進(jìn)行表征，固體、液體、粉末、薄膜、單晶和巖石等樣品都可以作為EZ-VSM測量的對象。

EZ-VSM可以進(jìn)行幾乎所有的磁學(xué)實驗測量：比如磁滯回線和小磁滯回線、IRM和DCD剩磁曲線、SFD、Delta M、Delta H、Henkel Plots、變角和AC剩磁曲線、溫度掃描和時間衰減等測試。同樣，用戶也可以通過系統(tǒng)功能來進(jìn)行自定義測量，只需靈活的運用Easy VSM軟件進(jìn)行編程即可完成。該軟件具有強大的處理數(shù)據(jù)能力，可以直接讀取HCB、HCJ、磁能積和各向異性場等參數(shù)，對研究永磁的客戶非常方便。所有的EZ系列產(chǎn)品都可同時配備磁扭矩測試和磁電阻測試系統(tǒng)，另外新增了磁光克爾和磁電耦合測試、鐵磁共振選件，拓展了設(shè)備的測試功能。

產(chǎn)品特點：

? 任何測試間距都具有噪聲。
? 當(dāng)選配EZ1-LNA溫度組件時，噪聲低于0.5 μemu。
? 在可用樣品空間內(nèi)噪聲低于0.1 μemu。
? 場噪聲低，約5 mOe。
? 磁場分辨率高，約0.2 mOe。
? 掃場速率最高可達(dá)1T/s，采點速率1000點/s。
? 無需硬件切換即可調(diào)節(jié)77 K、100-1000 K溫區(qū)。
? 新增磁光克爾功能、新增磁電耦合選件、直流/交流磁電阻選件、FMR選件、自動進(jìn)樣選件。
? 選用溫度選件時，具有10mm樣品腔空間。

? 安全可靠的風(fēng)冷磁體電源。

? 設(shè)備設(shè)計緊湊，所需空間小

應(yīng)用領(lǐng)域：

? 聲頻
? 視頻數(shù)據(jù)磁帶
? 軟磁媒體
? 濺射與電鍍型薄膜磁盤
? 磁光盤
? 多層膜結(jié)構(gòu)
? 軟、硬磁鐵氧體
? 磁粉
? 永磁材料
? 高溫超導(dǎo)體

? 強磁性鐵鎳合金以及其他軟磁材料

設(shè)備選件：

? 樣品自動旋轉(zhuǎn)臺（EZ1-VAR, 范圍:±400° 精度:±0.2°）
? 一體化高低溫選件（EZ1-LNA Temperature Control, 77K, 100K-1000K）
? 液氦低溫選件（EZ1-LHE, 4.2K, 8K-450K）
? 超高溫選件（EZ1-HT, 300K-1300K）
? 磁性矢量測量選件（EZ1-VSC-DSP, 噪聲: 400 nemu RMS(10s/點)；1000 nemu RMS (0.1s/點)）
? 快速掃場選件（EZ1-SWP，每秒最多1000個點，最大速率1T/s）
? 磁光克爾選件（EZ1-MOKE）
? 轉(zhuǎn)動磁扭矩測量系統(tǒng)（EZ1-TRO 1-400 dyne-cm）
? 磁阻測量選件（EZ1-MR、EZ1-MR-AC）
? 磁電耦合選件（EZ1-ME）
? 自動進(jìn)樣選件（EZ1-ASL）

                                                                        

應(yīng)用案例：

金屬有機磁體磁學(xué)性能表征

近期，來自國家科學(xué)研究中心波爾多大學(xué)Panagiota Perlepe等研究者，用一種常規(guī)、簡單、高效的輕量化分子基磁體合成含有鉻金屬離子和吡嗪構(gòu)建塊的預(yù)組裝配位網(wǎng)絡(luò)，由此產(chǎn)生的金屬有機鐵氧體具有高達(dá)242°C的臨界溫度和7500Oe的室溫矯頑力。該工作被發(fā)表在Science期刊上，在該項工作中，研究者利用MicroSense EZ系列振動樣品磁強計分別對材料低溫溫區(qū)的磁學(xué)性能進(jìn)行了表征。其中通過Microsense EZ系列VSM磁強計對材料300K-600K的測量數(shù)據(jù)的Tc點（510K）進(jìn)行了標(biāo)定。

VSM測量數(shù)據(jù)： 
矯頑力0.07 Oe的檢測，磁場間隔為2 mOe。EZ-VSM在不需要選件的情況下低場分辨率超過了某些使用了赫姆霍茲線圈的VSM。
3.6mm樣品空間10s/點進(jìn)行平均測量的噪聲，噪音指標(biāo)僅為14.2 nemu RMS和 70 nemu PP。
FORC測試結(jié)果。91條曲線，33000數(shù)據(jù)點，36分鐘在掃描模式下測試數(shù)據(jù)
磁扭矩測量

鐵磁共振FMR測試數(shù)據(jù)

設(shè)備型號：

樣品空間	EZ7	EZ7 HF	EZ9	EZ9 HF	EZ16
3.5 mm	2.6T	2.76T	3.0T	3.08T	3.6T
10mm	2.32T	2.45T	2.75T	2.85T	3.3 T
16mm	2.06T	2.12T	2.4T	2.58T	3.0T
EZ1-LNA一體化	2.03T	2.1T	2.4T	2.54T	2.95T
高低溫選件	1.6T	1.7T	2.15T	2.3T	2.7T
EZ1-HT	1.8T	1.9T	2.2T	2.3T	2.8T
300-1300K超高溫選件	2.32T	2.45T	2.7T	2.88T	3.3T
EZ1-VSC-DSP	2.4T	2.55T	2.8T	3.0T	3.6T

場精度與場噪聲：

范圍		分辨率		噪音(RMS)
高斯	特斯拉	高斯	特斯拉	高斯	特斯拉
100-200 Gs	10-20 mT	0.4 mGs	≤40nT	1 mGs	100 nT
400 Gs	40 mT	1 mGs	100 nT	2 mGs	200 nT
1 kGs	0.1 T	2 mGs	200 nT	10 mGs	300 nT
2 kGs	0.2 T	4 mGs	400 nT	15 mGs	300 nT
4 kGs	0.4 T	10 mGs	1 μT	15 mGs	400 nT
10 kGs	1 T	20 mGs	2 μT	20 mGs	1 μT
20 kGs	2 T	40 mGs	4 μT	20 mGs	1 μT
40 kGs	4 T	0.1 Gs	10 μT	50 mGs	2 μT
磁場精度：1% 讀數(shù) 或 0.05% 全量程
場控制穩(wěn)定度：＜ 0.05% RMS

磁矩范圍與噪音：

	噪聲 (nemu   RMS)
室溫
3.5mm樣品空間，0.1s/點	125
3.5mm樣品空間，10s/點	20
10mm樣品空間，0.1s/點	250
10mm樣品空間，10s/點	65
EZ1-LNA變溫選件，0.1s/點	500
EZ1-LNA變溫選件，10s/點	120
矢量VSM配件，0.1s/點	1000
矢量VSM配件，10s/點	400
LHe 或HT變溫選件，0.1s/點	2500
LHe 或HT變溫選件，10s/點	500

溫度范圍：

• 集成電路
• 芯片
• 晶圓片